Электронная микроскопия – метод изучения структуры поверхности микрообъектов с помощью потока электронов, позволяющий исследовать объекты при увеличении порядка 2´105 и обладающий высокой разрешающей способностью.
Движущийся электрон ведет себя как волна, причем его длина в 50000 раз меньше длины волны света, следовательно, и объекты, которые можно наблюдать в потоке («лучах») электронов могут быть значительно меньше.
Первый электронный микроскоп был построен в начале 1930-х годов. В нем вместо лучей света использовались быстрые электроны, а вместо стеклянных линз – электромагнитные катушки или электронные линзы. Исследуемый объект рассеивает, отражает и поглощает электроны.
Метод используется для исследования деталей микроструктуры объектов, невидимых (лежащей за пределами разрешающей способности) в световом микроскопе (мельче 0,1 мкм). Он позволяет выявлять внутреннюю структуру и морфологию поверхности различных объектов и проводить их сравнение при идентификационных исследованиях по таким морфологическим признакам, как размер и форма микрочастиц (на поверхности или в следе).
В экспертной практике используется метод просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии и метод растровой электронной микроскопии.
