Оптическая (световая) микроскопия в отраженном, проходящем и поляризованном свете широко используется при исследовании объектов судебной экспертизы в следующих целях.
Метод светлого поля в проходящем свете используется для исследования достаточно прозрачных (не поглощающих свет) объектов с включениями, которые выглядят темным пятном на светлом поле. Для исследования прозрачных объектов используют также метод темного поля в проходящем свете. В этом случае наблюдают светлые детали объектов на темном поле. Методы исследования объектов в проходящем свете используются в судебной экспертизе при исследовании осколков стекол, ювелирных камней, объектов биологической природы.
Метод микроскопии в отраженном свете используют при исследовании непрозрачных объектов. Это широкий круг объектов судебной экспертизы: частицы изделия из металлов и сплавов, лакокрасочных покрытий, волокон, документов и любые другие непрозрачные частицы твердых веществ и материалов.
При исследовании лакокрасочных материалов и покрытий микроскопия в отраженном свете используется для установления количества слоев в покрытии, их последовательности и толщины, наличия включений, загрязнений, взаимного проникновения слоев, образования различного рода воздушных пор, пузырей, раковин и других дефектов технологического характера. Выявленные признаки позволяют в некоторых случаях по результатам микроскопического исследования решать вопрос о тождестве объектов.
Исследование волокнистых материалов микроскопическими методами проводится для определения природы, цвета, характера поверхности волокон, для выявления посторонних микроналожений волокон. Эти исследования позволяют решать задачи определения родовой принадлежности окрашенных текстильных волокон, а при исследовании тонких срезов химических и природных волокон – установление их родовой (групповой) принадлежности.
