Прогнозирование технического состояния осуществляется на основе изучения закономерностей изменения технического состояния (развития дефектов, старения, изнашивания, коррозии, усталости и т. п.), приводящих к нарушению работоспособности изделия. Изменение технического состояния можно представить как изменение во времени результатов периодически выполняемых проверок параметров нескольких одинаковых изделий (групповое прогнозирование) или одного изделия (индивидуальное прогнозирование).
Для прогнозирования технического состояния изделия могут использоваться как структурные, так и функциональные параметры. Структурные параметры обычно труднодоступны для прямого измерения. Требуется принимать меры по обеспечению приспособленности изделия к диагностированию, определять значения структурных параметров косвенными и совокупными измерениями, методами внутрисхемного диагностирования.
Функциональные параметры не всегда пригодны для прогнозирования технического состояния изделия. Значительные изменения структурных параметров могут не проявляться, например, за счет обратных связей, или проявляться незначительными изменениями функциональных параметров. Параметры должны удовлетворять требованиям полноты, доступности, информативности. Этим критериям при прогнозировании технического состояния электронных устройств, приборов и аппаратуры систем управления удовлетворяют, например, токи, потребляемые составными частями от источников питания, параметры изделий электронной техники, определяемые методами внутрисхемного диагностирования.
