Абсолютной пог-ю наз отклонение результата измеренияXот истинного знач.ХИизмеряемой величины: Δ = X – XИ..в единицах измеряемой величины и наз-тсяабсолютной погрешностью измерения.
Относительная погрешность измерения — отношение абсолютной погрешности измерения к истинному значению измеряемой величины: δ= (Δ/XИ)*100%
Получаемую оценку погрешности, представляющую собой разность Δм-ду полученным при измерении и действительным знач.ми физической величины (здесь и далее имеется в виду абс. погрешность), в зав-сти от причин возникновения, хар-тера и условий проявления принято выражать суммой двух составляющих, называемых случайной ψ и систематической q погрешностями измерений: Δ= q +y.
Случайная погрешность измерения — составляющая погрешности измерения, изменяющаяся случайным образом при повторных измерениях одной и той же величины,определ.ься факторами кот.проявл.нерегулярно и с разной интенсивностью.
Знач. и знак случайной погрешности определ. невозможно, т.к. в каждом опыте причины, вызывающие погрешность, действуют неодинаково. Случайная погрешность всегда есть и не м.б. исключена из результата измерений. Но проведением ряда повторных измерений и исп.для их обработки м-дов математ.статистики опред.знач. измеряемой величины со случайной погрешностью, меньшей, чем при1ом измерения,при этом чаще всего исп.нормальный з-н распределения(Гауса),кот.опр. связь м-ду случайной величиной и вероятностью ее проявления.Для кол-венной оценки случай ной пог-ти при распределении Гауса исп.матем.ожидание Мх и среднеквадратичное отклонение υ.При конечном числе измерений мат.ожиданиеи среднеквадр.отклонение орп.по ф-лам:М(х)=1/n*Σxi ,
. Случайная пог-ть предст.собой интервал наз.доверительным, в кот. с заданной вероятностью Рg попадет в результат измерений.
Зав-сть доверительного интервалаот доверительной вероятности выраж.функцией Лопласса,кот.приводят в виде таблицы(Рg втехнолог.измерения обычно приним. 0,95).Иногда случ.пог-ти одного или неск. рез-тов измерений могут сильно отличаться от среднего знач.,их наз.тогда промахами(грубыми погреш-ми).Выявление промаха ведут с исп.статистических м-дов.
Систематическая погрешность — составляющая погрешности измерения, остающаяся постоян. или з-номерно изменяющаяся при повторных измерениях одной и той же величины.Ее выявление часто связано с проведением дополнит.исследований. Обнаруженная и оцененная систематическая погрешность исключается из результатавведением поправки. В зав-сти от причины возникновения различают след.систематические погрешности:
1.Погрешность м-да (теоретическая погрешность) измерений — составляющая погрешности измерения, обусловленная несовершенством м-да измерений. Здесь необх-мо учитывать тот факт, что м-д измерения, по определению, включает в себя и пр-п измерения. 2.Инструментальная погрешность измерения — составляющая погрешность измерения, зависящая от погрешности применяемых средств измерений. 3.Погрешность установки явл. следствием неправильности установки средств измерений. 4.Погрешность от влияющих величин явл. следствием воздействия на объект и средством измерений внешних факторов (тепловых и воздушных потоков, магнитных, электрических, гравитационных и других полей, атмосферного давления, влажности возд., ионизирующего излучения). 5.Субъективная погрешность обусловлена индивид.свойствами чел.а,кот.пров. измерения.
Для обнаружения системат пог-ти исп.средства измерений,основанные на разных м-дах(м-д раидонизации).По хар-теру проявления систематические погрешности делят на постоянные и переменные.
Постоянные погрешности не изменяют своегознач. при повторных измерениях. Причинами этих погрешностей явл.: неправильная градуировка или юстировка средств измерений, неправильная установка начала отсчета и т. д.
Переменные погрешности при повторных измерениях могут принимать различные знач.. Если переменная погрешность при повторных измерениях возрастает или убывает, то ее наз-ютпрогрессивной. Переменная погрешность может изменяться при повторных измерениях периодически или по сложномуз-ну.
Причинами возникновения переменной систематической погрешности явл.: действие внешних факторов и особенности конструкций средств измерений.