Для исследования объектов в проходящих электронных пучках применяют просвечивающую электронную микроскопию, которая используется для исследования объектов в виде тонких срезов или суспензий. Исследования проводятся на просвечивающих электронных микроскопах (ПЭМ), обладающих самой высокой разрешающей способностью по сравнению с другими типами электронной микроскопии (0,2-0,3 нм) и увеличивающих объект до 500 000 крат.
Поскольку метод ПЭМ позволяет исследовать объекты в виде тонких пленок или суспензий, то для большинства объектов судебной экспертизы необходима предварительная пробоподготовка, часто приводящая к частичному повреждению или уничтожению объектов.
Методы подготовки объектов для анализа:[5]
-получение реплик с объекта (когда исследуется не сам объект, а слепок с его поверхности), как, например, в случае металлов или волокнистых материалов. Это не повреждающий объект метод пробоподготовки;
-утончение объектов ( приготовление фольги из металлов и сплавов);
-разрушение объектов с извлечением из него исследуемого компонента (сажа из резины, загустители смазок);
-получение ультратонких срезов (волокнистые и лакокрасочные материалы).
С помощью ПЭМ в судебной экспертизе решаются задачи:
-определение марки сажи в саженаполненных материалах (резины, тонеры);
-определение причины разрушения изделия из металла (по характеру излома);
-определение типа загустителя в смазках (исследование загустителей пластичных смазок используется в целях установления их родовой принадлежности);
-определение вида волокнистого материала;
-установление общей родовой (групповой) принадлежности волокон при исследовании особенностей их поверхности и внутренней структуры, красителей неорганической природы (установления формы, размеров частиц красителя и характера их распределения), наличия различных отделочных материалов, эксплутационных признаков;
-определение фазового состава кристаллических веществ;
-выявления особенности технологии изготовления (термической обработки) ряда изделий из стекла.
